一、考試內(nèi)容

1．材料熱分析

（1）熱分析（熱重、差熱、示差掃描量熱分析）的基本原理

（2）材料的綜合（同步）熱分析

（3）熱分析在無(wú)機(jī)材料研究中的應(yīng)用

2．X射線衍射分析

（1）X射線的產(chǎn)生及特征X射線

（2）X射線的性質(zhì)及其與物質(zhì)的相互作用

（3）X射線衍射的原理及條件

（4）X射線衍射儀的基本構(gòu)成

（5）X射線衍射譜的幾何特征及其影響因素

（6）多晶X射線衍射物相定性和定量分析：原理和方法

（7）多晶樣品晶體點(diǎn)陣常數(shù)精確測(cè)定的基本原理和方法（一般性了解）

（8）謝樂公式法測(cè)定晶粒尺寸及方法的特點(diǎn)和局限性

3．電子顯微分析

（1）電子光學(xué)基礎(chǔ)

（2）透射電子顯微鏡的原理和性能

（3）透射電鏡（含高分辨透射電鏡）的成像原理

（4）電子衍射的原理、物質(zhì)聚集狀態(tài)對(duì)電子衍射譜的影響、電子衍射的應(yīng)用

（5）透射電鏡樣品的制備

（6）掃描電子顯微鏡的原理和性能

（7）二次電子像和背散射電子像的成像原理和特點(diǎn)

（8）掃描電鏡樣品的制備

（9）電子顯微分析方法在無(wú)機(jī)材料研究中的應(yīng)用

4．X射線顯微分析方法（電子探針微區(qū)成分分析）

（1）X射線微區(qū)成分分析的空間分辨率

（2）X射線能譜儀的原理和性能

（3）X射線波譜儀的原理和性能

（4）X射線微區(qū)成分定性和定量分析的原理

（5）X射線能譜和X射線波譜的比較

（6）X射線顯微分析方法在無(wú)機(jī)材料研究中的應(yīng)用

5．紅外光譜分析的基本原理及其在無(wú)機(jī)材料研究中的應(yīng)用

6．原子力顯微鏡的基本原理、特點(diǎn)及應(yīng)用

7．X射線光電子能譜分析的基本原理、特點(diǎn)及應(yīng)用

8．俄歇電子能譜分析的基本原理、特點(diǎn)及應(yīng)用

9．原子發(fā)射光譜和原子吸收光譜的基本原理、特點(diǎn)及應(yīng)用

10.無(wú)機(jī)材料研究方法的綜合運(yùn)用

二、考試題型

1. 填空題（共30分）

2. 問答題（共70分，個(gè)別題有可能涉及一些簡(jiǎn)單的計(jì)算）

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